Patentbesvärsrättens avgöranden

Register över Patentbesvärsrättens mål och avgöranden från 1989 till och med den 31 augusti 2016.
För äldre avgöranden, kontakta Stockholms tingsrätts arkiv.

Tillbaka

Patentbesvärsrätten

Mål

Målnr: 04-318

Beslutsdatum: 2008-12-30

Lagakraft: 2009-03-02

Målet gäller: Upphävande av patent på anordning, mätenhet och förfarande för inriktning av en första och en andra kraftöverförande remskiva.

Ink datum: 2004-11-24

Reg datum: -

Överklagat: -

PRV:s nummer: 0000024-0

PRV beslutsdag: 2004-09-24

Överklagat till Högsta förvaltningsdomstolen

Mål nr: -

Beslut: -

Klass: G01B 5/25 , G01B 11/27

Juridiska sökord: uppfinningshöjd

Tekniska sökord: remskiva; inriktning; laser;

Lagrum: 2 § patentlagen (1967:837)

Måltyp: patent

Utgång: avslag

Beslutskategori: intressant

Klagande

Klagandetyp: sökande

Namn: A. P. Fixturlaser AB

Ombud: Albihns Göteborg AB

Fler Klagande: -

Motpart

Namn: Damalini AB

Ombud: Valea AB

Fler Motparter: -

Referat: PBR har funnit att en anordning, mätenhet och förfarande för inriktning av en första och en andra kraftöverförande remskiva i förhållande till varandra inte har erforderlig uppfinningshöjd.

Referat fortsättning : -

Text: DOMSLUT

Patentbesvärsrätten lämnar överklagandet utan bifall.

REDOGÖRELSE FÖR SAKEN OCH FRAMSTÄLLDA YRKANDEN

A P Fixturlaser AB (Fixturlaser) ansökte den 5 januari 2000 om patent på ”Anordning och förfarande för inriktning av komponenter”. Fixturlaser beviljades patent den 2 april 2002 varefter Damalini AB framställde invändning mot patentet med yrkande om att det skulle upphävas. Sedan Fixturlaser yrkat att patentet skulle upprätthållas i ändrad lydelse med patentkrav inkomna den 28 januari 2004 (bekräftade per brev den 30 januari 2004) upphävde Patentverket genom det överklagade beslutet patentet. Verket fann i sitt beslut att uppfinningen saknade uppfinningshöjd i förhållande till anförd känd teknik.

I målet har invändaren anfört känd teknik enligt följande dokument.

D1: Hamar Laser S-600, Sheave Alignment system, New Equipment Digest, juni 1999

D2: Utskrift från artikelns (Laser S-600) skapare och redigerare Diane Madzelonka

D3: Intyg från Roderick M. Hamar

D4: GB 2329019

D5: US 4249294

D6: Easy-Laser, Machinery & Equipment MRO, November 1999

D7: Intyg från John Lambert

D8: Intyg från Tommy Edvinsson

D9: Annons från företaget Spectra Quest 1999

D10: Plant Engineering utgåva från november 1999

D11: Spanska tidningen EPI, november 1999

D12: US 2714255

D13: US 5026998

D14: GB 2128324

D15: Combi-laser, fixturlaser, 1995

Uppfinningen

Av patentansökningens beskrivning framgår bl.a. följande om uppfinningens bakgrund och ändamål.

Uppfinningen avser en anordning, en mätenhet och ett förfarande för inriktning av en första kraftöverförande remskiva och en andra kraftöverförande remskiva i ett förutbestämt förhållande till varandra.

I olika sammanhang finns det behov av korrekt inriktning av olika komponenter i förhållande till varandra. I samband med drift av t.ex. maskiner och fläktanläggningar överförs ofta utgående effekt från en drivande enhet via en rotationsrörelse hos en axel och en första komponent för kraftöverföring till en andra komponent för kraftöverföring, som tillsammans med en ytterligare axel utgör en del av en driven enhet.

Inriktning av remskivor syftar i synnerhet till att reducera eller helst eliminera eventuella parallellfel, vinkelfel och s.k. twist-fel mellan remskivorna. Det är i detta sammanhang förut känt att utnyttja en laseranordning som placeras på sidan av den ena remskivan och inrättas att generera en laserlinje som utgör en förlängning av det plan längs vilket remskivan är anordnad. Denna laserlinje bringas att infalla mot en måltavla, d.v.s. en komponent på den motstående remskivan på vilken laserlinjen avbildas, varigenom eventuella avvikelser i förhållande till en definierad referens framträder. Efter justering kan konstateras om laserlinjen träffar rätt på måltavlorna.

Fastän det kända systemet medger en jämförelse mellan läget hos två remskivor tas ingen hänsyn till läget hos den rem som skall användas. Detta utgör ett problem, eftersom remmens placering avgör eventuellt slitage och försämrad verkningsgrad hos de aktuella maskinerna.

I det fall uppfinningen utnyttjas för inriktning av remskivor kan noteras att anordningen medger en inriktning som relateras till läget hos den eller de remmar som utnyttjas vid remskivorna i fråga. Dessutom medger uppfinningen olika detekteringsmetoder, t.ex. en rent visuell detektering av en operatör eller en elektronisk detektering med hjälp av fotokänsliga detektorer. Vid den sistnämnda typen av detektering sker visning av resultatet med hjälp av exempelvis lysdioder eller en display.

Ett ytterligare ändamål med uppfinningen är att tillhandahålla en anordning för inriktning av remskivor som kan utnyttjas vid ett flertal olika typer av remskivor. Detta ändamål uppnås genom att den företrädesvis innefattar referenskomponenter som utgörs av löstagbara komponenter som skjuter ut från respektive mätenhet till en motsvarande formförändring i respektive remskiva. Om uppfinningen exempelvis utnyttjas vid remskivor med kilspår kan referenskomponenterna lämpligen utgöras av tappliknande, löstagbara detaljer som monteras i respektive mätenhet. På så vis relaterar referenskomponenterna till en känd referens på den aktuella remskivan.

Yrkanden

Patenthavaren har i Patentbesvärsrätten yrkat att patentet skall upprätthållas med patentkrav inkomna den 21 januari 2005.

Uppfinningen definieras i de självständiga patentkraven 1, 8 och 9 på följande sätt.

1. Anordning för inriktning av en första kraftöverförande remskiva (1) och en andra kraftöverförande remskiva (2) i ett förutbestämt förhållande till varandra, innefattande en första mätenhet (7) inrättad för montering på nämnda första remskiva (1) och innefattande en laseranordning (9) för generering av laserstrålning (10) med ett förutbestämt mönster i riktning mot en andra mätenhet (11) inrättad för montering på nämnda andra remskiva (2), kännetecknad därav, att:

nämnda andra mätenhet (11) innefattar en andra laseranordning för generering av laserstrålning (13) med ett förutbestämt mönster i riktning mot nämnda första mätenhet (7),

att var och en av mätenheterna (7, 11) innefattar en detekteringsanordning för utsänd laserstrålning,

att respektive laseranordning är så inrättad att respektive mönster av laserstrålning (10,13) huvudsakligen sammanfaller med och utgör en förlängning av ett gemensamt plan längs vilket respektive remskiva (1, 2) har sin utsträckning,

att var och en av mätenheterna (7, 11) innefattar åtminstone en referenskomponent (18a, l8b, 19a, 19b) som är utbytbart anordnad i respektive mätenhet (7, 11) och som under nämnda inriktning är förbunden med och inrättad att samverka med ett spår (16) på en förutbestämd position på respektive remskiva (1, 2) medan respektive mätenhet (7, 11) är inrättad som en referens mot respektive periferiell kant (8, 12) hos nämnda remskivor (1, 2) genom anliggning mot respektive kant (8, 12),

samt att nämnda position samt placeringen för respektive detekteringsanordning sammanfaller med nämnda gemensamma plan.

8. Mätenhet (7) avsedd för inriktning av en första kraftöverförande remskiva (1) och en andra kraftöverförande remskiva (2) i förutbestämt förhållande till varandra, vilken mätenhet (7) är inrättad för montering på en av remskivorna (1) och innefattar en laseranordning (8) för generering av ett ljusmönster (10) mot en ytterligare mätenhet (11) inrättad för montering på nämnda andra remskiva (2), kännetecknad därav, att:

den innefattar en detekteringsanordning (14; 23, 24) för detektering av ett mönster (13) av laserstrålning från nämnda ytterligare mätenhet (11),

att nämnda laseranordning är så inrättad att nämnda mönster huvudsakligen sammanfaller med och utgör en förlängning av ett gemensamt plan längs vilket motsvarande remskiva (1) och nämnda andra remskiva (2) har sin utsträckning,

att den innefattar åtminstone en referenskomponent (18a, 18b; 19a, 19b) som är utbytbart anordnad i mätenheten (7) och som under nämnda inriktning är fast förbunden med och inrättad att samverka med ett spår (16) på en förutbestämd position hos motsvarande remskiva (1) medan mätenheten (7) är inrättad som en referens mot den periferiella kanten (8, 12) hos nämnda remskiva (1) genom anliggning mot nämnda kant (8, 12) samt

att nämnda position samt placeringen för nämnda detekteringsanordning (14; 23, 24) huvudsakligen sammanfaller med nämnda gemensamma plan.

9. Förfarande för inriktning av en första kraftöverförande remskiva (1) och en andra kraftöverförande remskiva (2) i förutbestämt förhållande till varandra, innefattande:

montering av en första mätenhet (7) på nämnda första remskiva (1),

montering av en andra mätenhet (11) på nämnda andra remskiva (2),

generering av ett mönster (10) av laserstrålning från den första mätenheten (7) i riktning mot den andra mätenheten (11)

kännetecknat därav, att förfarandet innefattar:

generering av ett ytterligare mönster (13) av laserstrålning från den andra mätenheten (11) i riktning mot den första mätenheten (7), varvid respektive mönster (10, 13) huvudsakligen utgör en förlängning av det plan längs vilket respektive remskiva (1, 2) har sin utsträckning,

detektering av nämnda mönster (10, 13) med hjälp av detekteringsanordningar i nämnda första mätenhet (7) och nämnda andra mätenhet (11),

varvid nämnda generering av respektive mönster (10,13) av laserstrålning sker så att respektive mönster (10, 13) huvudsakligen sammanfaller med ett gemensamt plan längs vilket respektive remskiva (1, 2) har utsträckning, samt att

nämnda montering av den första mätenheten (7) och den andra mätenheten (11) sker under det att respektive mätenhet (7,11) medelst en referenskomponent (18a, 18b; 19a 19b) som är utbytbart anordnad i respektive mätenhet (7, 11) inrättas att samverka med ett spår (16) på en förutbestämd position på respektive remskiva (1, 2), medan respektive mätenhet (7, 11) inrättas som en referens mot respektive periferiell kant (8, 12) hos nämnda remskivor (1, 2) genom anliggning mot respektive kant (8,12),

varvid nämnda position samt placeringen för respektive detekteringsanordning huvudsakligen sammanfaller med nämnda gemensamma plan.

Invändaren har i Patentbesvärsrätten bestritt ändring.

Grunder

Patenthavaren har till grund för sitt yrkande åberopat att uppfinningen uppvisar nyhet och uppfinningshöjd i förhållande till den kända tekniken.

Till grund för sitt bestridande har invändaren hållit fast vid att uppfinningen saknar uppfinningshöjd i förhållande till känd teknik.

Utveckling av talan

Patenthavaren har i Patentbesvärsrätten sammanfattningsvis anfört följande.

Uppfinningen syftar till att lösa ett problem som består i att kända system för inriktning av remskivor inte ger en tillräckligt enkel, effektiv och noggrann mätprocedur.

För att uppnå detta syfte med uppfinningen innefattar den en kombination av ett flertal olika särdrag och funktioner som tillsammans tillgodoser ett antal olika behov. I synnerhet kan nämnas:

- behovet av att kunna mäta parallellfel, twistfel och vinkelfel samtidigt under en och samma mätprocedur, vilket i sig möjliggörs av de två motriktade laseranordningarna samt genom att laserstrålningen sammanfaller med och utgör en förlängning av ett gemensamt plan längs vilket remskivorna har sin utsträckning,

- behovet av en hög noggrannhet vid mätningar, vilket kan tillgodoses genom att utnyttja två olika typer av referensfunktioner,

- behovet av ett enkelt handhavande med möjlighet till anpassning till olika remskivor med t.ex. olika dimensioner, vilket i sig tillgodoses genom en utbytbart anordnad referenskomponent som samverkar med ett spår på en remskiva, samt

- behovet av att tillhandahålla en enkel och noggrann avläsning av mätresultat, vilket kan tillgodoses genom att placeringen för respektive detekteringsanordning sammanfaller med det ovannämnda gemensamma planet.

Den s.k. "uppfinningstanken" består alltså av ett antal olika aspekter som sammantaget utgör en lösning på det ovannämnda problemet. Patentkravet 1 måste läsas som en kombination av ett flertal särdrag vid bedömningen av nyhet och uppfinningshöjd.

Mot bakgrund av vad som nu förklarats är det alltså - tvärtemot vad invändaren påstår - en viktig del av "uppfinningstanken" bakom rubricerade patent att det tillhandahålls två mätenheter med varsin motriktad laseranordning. Det är bl.a. detta särdrag som möjliggör att en samtidig mätning av parallellfel, twistfel och vinkelfel medges under ett och samma mätförfarande.

Invändaren menar att det inte medför uppfinningshöjd att utnyttja motriktade laserstrålar. Vi konstaterar att man lyfter ut ett enstaka särdrag istället för att bedöma uppfinningen i sin helhet. Vi har aldrig hävdat att de motriktade laserstrålarna i sig skulle vara något patenterbart. Istället är det så att uppfinningen måste ses som en kombination av ett flertal olika särdrag som sammantaget utgör en lösning på det ovannämnda problemet.

Med andra ord kan man inte påstå att ett visst särdrag i ett patentkrav saknar uppfinningshöjd. En uppfinning definieras i ett patentkrav som ett antal olika särdrag som skall betraktas i sin helhet, med utgångspunkt från känd teknik och i avsikt att lösa ett visst teknisk problem.

Vi hävdar alltså att bedömningen av uppfinningshöjd måste avse patenterbarheten hos patentkravet 1 i sin helhet, alltså med samtliga de särdrag som ingår i detta patentkrav.

Dokumentet "Hamar Laser S600" (D1) är att betrakta som det närmast liggande dokumentet. De mest väsentliga skillnaderna mellan den föreliggande uppfinningen och D1 är generellt följande:

uppfinningen innefattar två mätenheter som vardera innefattar en laseranordning och en detektor, medan D1 visar en första mätenhet med en laseranordning och en andra mätenhet med en detektor;

uppfinningen är inrättad så att laserljuset från respektive laseranordning har sin utsträckning som sammanfaller med ett plan som i sin tur sammanfaller med och utgör en förlängning av ett gemensamt plan längs respektive remskiva, medan D1 visar ljusstrålning med utsträckning parallellt och vid sidan om remskivorna;

- uppfinningen innefattar två referensfunktioner; dels en utbytbar referenskomponent och dels genom att respektive mätenhet är inrättad som referens mot den periferiella kanten hos respektive remskiva, medan D1 visar endast en referensfunktion;

- uppfinningen baseras på att positionen där referenskomponenten samverkar med respektive remskiva samt placeringen för respektive detekteringsanordning sammanfaller med nämnda gemensamma plan.

En jämförelse mellan D1 och föreliggande uppfinning leder också till slutsatsen att systemet enligt D1 inte fungerar vid mätningar på remskivor med endast ett spår, eftersom den monteringsanordning som utnyttjas enligt D1 måste gripa in i två olika spår. Vidare är systemet enligt D1 utrymmeskrävande då det bygger ut på sidan, där det inte alltid finns utrymme. Den föreliggande uppfinningen kräver alltså betydligt mindre utrymme än systemet i D1.

Vidare medger uppfinningen en indexeringsfunktion som gör det möjligt att kontrollera att instrumentet inte förlorat korrekt kalibrering i parallell- och vinkelled. En sådan funktion är inte möjlig med systemet enligt D1.

Följande särdrag iii) - vii) i patentkravet 1 framgår inte av D1:

iii) nämnda andra mätenhet innefattar en andra laseranordning för generering av laserstrålning med ett förutbestämt mönster i riktning mot nämnda första mätenhet,

iv) att var och en av mätenheterna innefattar en detekteringsanordning för utsänd laserstrålning,

v) att respektive laseranordning är så inrättad att respektive mönster av laserstrålning huvudsakligen sammanfaller med och utgör en förlängning av ett gemensamt plan längs vilket respektive remskiva har sin utsträckning,

vi) att var och en av mätenheterna innefattar åtminstone en referenskomponent som är utbytbart anordnad i respektive mätenhet och som under nämnda inriktning är förbunden med och inrättad att samverka med ett spår på en förutbestämd position på respektive remskiva medan respektive mätenhet är inrättad som en referens mot respektive periferiell kant hos nämnda remskivor genom anliggning mot respektive kant, samt

vii) att nämnda position samt placeringen för respektive detekteringsanordning sammanfaller med nämnda gemensamma plan.

Patentkravet 1 uppvisar alltså nyhet i förhållande till D1.

Vare sig D4 eller D5 uppvisar samtliga de särdrag iii) - vii) som nämns ovan. Det kan alltså aldrig vara tillräckligt med en kombination av D1 och D4, alternativt D5, för att hävda att patentkravet 1 saknar uppfinningshöjd. Inte heller en kombination av alla dessa tre dokument uppvisar samtliga särdrag i patentkravet 1. Motsvarande resonemang gäller också för de övriga oberoende patentkraven 8 och 9.

En viktig skillnad mellan uppfinningen å ena sidan, och D4 och D5 å andra sidan, är att de två sistnämnda dokumenten inte visar hur man kan inrätta laseranordningar för att generera laserstrålning som utgör en förlängning av ett plan. Inte heller visar D4 och D5 något system som innefattar två mätenheter som vardera innefattar en laseranordning och en detekteringsanordning, där laserstrålningen är motriktad mot respektive detekteringsanordning. Inte heller visar D4 eller D5 något system där ett gemensamt plan löper längs två remskivor, närmare bestämt genom positionen där respektive referenskomponent samverkar med respektive remskiva och genom respektive detekteringsanordning.

Inte heller något annat av de dokument som förekommit i detta ärende kan sägas vara så närliggande att det skulle kunna anföras i kombination med D1 mot något av de oberoende patentkraven.

Således är det vår uppfattning att fackmannen på området, som utgår från D1 och ställs inför det ovannämnda problemet som uppfinningen syftar till att lösa, inte får någon ledning vare sig från D1 eller något av de övriga anförda dokumenten som leder till lösningen enligt patentkravet 1 resp. patentkraven 8 och 9. Av denna anledning hävdar vi att dessa patentkrav uppvisar uppfinningshöjd.

Invändaren har i Patentbesvärsrätten sammanfattningsvis anfört följande.

Som Damalini konstaterat tidigare i ärendet innebär känd teknik att det som begärts skyddat i patentet inte kan tillskrivas någon uppfinningshöjd, vilket främst beror på att det t.ex. genom D1, D4 och D12 är känt att inrikta remskivor utgående från referenskomponenter som ligger an i remspåren. Inriktning av remskivor utgående från referenskomponenter som ligger an i remspåren utgör nämligen den preciserade lösning som i patentet begärts skyddad i förhållande till det problem som uppställs i patentet, nämligen problemet att åstadkomma en inriktning av remskivorna som tar hänsyn till läget hos remmen.

Som Damalini också konstaterat tidigare i ärendet är eventuella skillnader mellan främst D1 och det som begärts skyddat i patentet utan betydelse för lösningen av nämnda problem och/eller utgör för fackmannen välkända och närliggande alternativ. Dessa eventuella skillnader medför således inte att det som begärts skyddat i patentet kan tillmätas uppfinningshöjd.

Enligt krav 1 utnyttjas två mätenheter vilka sänder en laserstråle i riktning mot varandra. Båda mätenheterna är försedda med en detekteringsanordning för detektering av respektive utsänd laserstråle. Vidare utnyttjar D1 en första mätenhet som sänder en laserstråle i riktning mot en andra mätenhet, vilken är försedd med en detekteringsanordning för detektering av den utsända laserstrålen. Det som begärts skyddat av krav 1 avser med andra ord en s.k. reverserad mätning, där två mätenheter båda sänder en laserstråle i riktning mot varandra, medan D1 avser en enkel mätning där endast en mätenhet sänder en laserstråle i riktning mot en andra mätenhet.

Patentets uppfinningstanke - d.v.s. kombinationen av problem och lösning - avser problemet att åstadkomma en inriktning av remskivor som tar hänsyn till läget hos remmen, där lösningen är att inriktningen sker utgående från remskivans spår. Enligt patentet kan denna uppfinningstanke utföras med två dubbelriktade laserstrålar. Enligt patentet kan uppfinningstanken också utföras med en enda laserstråle. Det ska då noteras att anordningen i D1 utgör känd teknik som med hjälp av en enda laserstråle inriktar remskivor med hänsyn till läget hos remmen, d.v.s. utgående från remskivans spår. Patentets uppfinningstanke att inrikta remskivor med hänsyn till läget hos remmen kan med andra ord utföras med såväl en enda laserstråle som två motriktade laserstrålar. Att använda två motriktade laserstrålar istället för en enda laserstråle påverkar eller bidrar således inte till patentets uppfinningstanke och det påverkar eller bidrar inte heller till att patentkrav 1 definierar något med uppfinningshöjd i förhållande till D1.

I ljuset av patentets uppfinningstanke och i ljuset av känd teknik t.ex. D1 i kombination med D13 eller D14 – men även i ljuset av det som patentet säger om känd teknik är det således helt klart att patentet inte definierar något med uppfinningshöjd genom bestämningen att inriktning av remskivor ska ske med hjälp av två motriktade laserstrålar. Särdragen iii) och iv) [se sid. 10 ovan] i krav 1 definierar således inget med uppfinningshöjd.

Enligt krav 1 fordras att respektive laserstråle och referenskomponenterna samt respektive detektoranordning alla ska vara inrättade längs ett och samma plan längs vilket också remskivorna har sin utsträckning. Ser vi till D1 löper laserstrålen m.m. däri emellertid parallellt med det plan längs vilket de båda remskivorna har sin utsträckning.

För en fackman torde det emellertid vara helt självklart att den aktuella ljusstrålen och andra delar av mätenheten vid behov kan inrättas i linje med remskivan – se t.ex. D4, D5 och D12 -eller inrättas längs en linje som löper parallellt med remskivan - se t.ex. D1 och D6 (Easy-Laser). Detta är något vars lämplighet en fackman mycket enkelt kan undersöka i ljuset av känd teknik. Mot bakgrund av framförallt D4 eller D12 är det således helt uppenbart för en fackman att också D1 vid behov kan modifieras för att inrättas i linje med remskivan. Detta motsvarar helt särdragen v) och vii) i krav 1. I ljuset av kända anordningar, men även i ljuset av allmän teknisk kunskap, kan det således inte vara fråga om något med uppfinningshöjd att vid inriktning av remskivor inrätta ljusstrålen och andra delar av den aktuella mätenheten i linje med remskivan eller parallellt med remskivan.

Det torde helt sakna betydelse om ljusstråle och detekteringsanordning anordnas i linje med remskivan eller parallellt med remskivan, vilket också framhålls i patentet. Om ljusstrålen och detekteringsanordningen m.m. anordnas i linje med remskivan eller parallellt med remskivan påverkar eller bidrar således inte till patentets uppfinningstanke och det påverkar eller bidrar inte heller till att krav 1 definierar något med uppfinningshöjd.

I ljuset av känd teknik och patentets uppfinningstanke är det således helt klart att patentet inte definierar något med uppfinningshöjd genom bestämningen om att laserstrålning, referenskomponenter och detektoranordning alla ska vara inrättade längs ett och samma plan längs vilket också respektive remskiva har sin utsträckning. Särdragen v) och vii) i krav 1 definierar således inget med uppfinningshöjd.

Vad som har lagts till genom särdraget vi) är dels att mätenheterna innefattar åtminstone en referenskomponent som är utbytbar och dels att referenskomponenten är inrättad att samverka med ett spår på remskivan, medan mätenheten är inrättad som en referens mot respektive periferiell kant hos nämnda remskiva genom att ligga an mot respektive kant. Härigenom definieras två olika referenser, nämligen en första referens som ligger an mot remskivans spår och en andra referens som ligger an mot remskivans periferiella kant.

För en fackman med allmänt tekniskt kunnande och med tillgång till känd teknik är det självklart att en referenskomponent endera kan vara utbytbar eller icke utbytbar beroende på vad som är mest lämpligt i den aktuella inriktningstillämpningen. Utbytbara referenskomponenter framgår exempelvis av D1 som uppvisar två mätenheter med utbytbara referenskomponenter i form av ett s.k. ”precision ball block” som samverkar med remskivans spår.

För en fackman är det välkänt och självklart att det i många fall fordras flera referenser för att stabilisera en mätenhet på en remskiva och i ljuset av känd teknik är det helt uppenbart att exempelvis mätenheterna i D1 vid behov kan ges ytterligare stöd, utöver stödet från remspåren, genom att också ligga an mot den periferiella kanten av remskivan.

Ett sådant behov kan exempelvis uppstå vid remskivor som bara har ett remspår när mätenheten har en referenskomponent som endast ligger an mot remspåret, eftersom mätenheten i så fall riskerar att sitta löst på remskivan. En uppenbar åtgärd är då att använda åtminstone två olika referenser så att mätenheten ligger an mot någon ytterligare yta på remskivan utöver remspåren. Att det härvidlag är lämpligt att använda såväl remskivans spår som remskivans periferiella kant för att skapa två olika referenser är något i det närmaste självklart som också tillämpas i känd teknik när det anses lämpligt.

Mätenheterna i D5 åstadkommer en första referens genom en T-formad stång med en avsmalnande spets som är inrättad att samverka med remskivans remspår, och en andra referens genom en U-formad enhet som är anordnad att ligga an mot den periferiella kanten av respektive remskiva. När den U-formade enheten ligger an mot den yttre periferiella kanten av remskivan ligger den avsmalnande spetsen av stången an i remspåret och därmed skapas två olika referenser för respektive mätenhet, en referens mot remspåret och en referens mot den periferiella kanten.

Fixturlaser har även hävdat att uppfinningen medger en indexeringsfunktion som möjliggör en kontroll av mätenhetens kalibrering. Mätenhetens kalibrering kan inte kontrolleras genom att vrida eller indexera densamma. Vidare omnämns kalibreringskontrollen endast mycket kortfattat i patentet och där beskrivs inte närmare i vilket avseende kalibreringen blir kontrollerad vid en indexering. Indexeringsfunktionen är med andra ord mycket oklart beskriven och stöds inte heller på något sätt av figurer i ritningarna. En eventuell indexeringsfunktion kan därför inte tillmätas någon som helst betydelse vid en bedömning av uppfinningshöjden.

I ljuset av vad som anförts vidhåller Damlini sin inställning att patentet inte avser något nytt med uppfinningshöjd.

DOMSKÄL

Av de anförda dokumenten får D1 anses representera den teknik som kommer uppfinningen närmast. Uppfinningen såsom den definieras i patentkravet 1 skiljer sig från denna teknik på följande sätt:

- att de två mätenheterna båda är utrustade med såväl en laseranordning som en detekteringsanordning för laserstrålning,

- att mönstret av laserstrålning från vardera laseranordning sammanfaller med och utgör en förlängning av ett gemensamt plan längs vilket respektive remskiva har sin utsträckning,

- att åtminstone en referenskomponent i respektive mätenhet, som är utbytbar, samverkar med ett spår på en förutbestämd position på remskivan, vilken position sammanfaller med nämnda gemensamma plan och att respektive mätenhet är inrättad som en referens mot respektive periferiell kant hos remskivan genom anliggning mot respektive kant.

Beträffande den förstnämnda skillnaden framgår av patentets beskrivning sid. 14 rad 34 – sid. 15 rad 5 att med aktuell utformning av mätenheterna man inte behöver skifta mätenheterna mellan de två remskivorna vid inriktningen utan parallell-, twist- och vinkelfel kan avläsas med en mätning. Enligt tekniken i D1 innehåller mätenheterna enbart en detektor respektive en laseranordning varvid detektorn består av tre sensorer som är grupperade i en triangel varigenom de tre feltyperna kan avläsas med en mätning. I uppfinningen används en annan typ av detektorer med två sensorer som arrangerats i ett plan varför det blir nödvändigt att de båda mätenheterna innefattar såväl laseranordning som detektor för att inriktningen ska kunna ske med en mätning. Uppfinningen anger således i förhållande till D1 en alternativ lösning på problemet att kunna utföra inriktningen med en avläsning. Fackmannen får dock anses omedelbart inse att valet av detektor medför att mätning måste ske i båda riktningarna för att de tre feltyperna med säkerhet ska kunna avläsas.

Vad därefter beträffar övriga skillnader kan först konstateras, vad avser placeringen av mönstret av laserstrålning i ett plan i respektive remskivas förlängning, att av patentets beskrivning (sid. 14, rad 22 – 28) framgår att laserlinjerna som ett alternativ kan vara i linje med ett plan som är parallellförskjutet i förhållande till respektive remskivas utsträckning. Det senare utförandet svarar mot vad som framgår av D1. Förutom uppenbara utrymmeshänsyn ger varken beskrivningen eller vad som i övrigt framkommit i målet i detta avseende något besked om hur alternativen påverkar anordningens funktion eller om någotdera utförande skulle medföra någon oväntad teknisk effekt. Alternativen framstår därför som likvärdiga.

Vad sedan beträffar referenskomponenternas utformning ger det angivna utförandet utöver vad som uppnås med tekniken enligt D1 - utbytbara referenser som samverkar med remspåren på respektive remskiva är kända från D1 - möjlighet till mätning även på remskivor med endast ett spår.

I D5 visas en anordning vid inriktning av remskivor där de optiska mätenheterna placeras på respektive remskivas kant och där den optiska strålgången är anordnad i ett plan som sammanfaller med respektive remskivas utsträckning. Mätenheterna är försedda med en referenskomponent som samverkar med ett spår i remskivan och mätenheten samverkar även med remskivans periferiella kant för inställning av det optiska planet i förlängningen av remskivans utsträckning. Även om anordningen enligt D5 exemplifieras med remskivor som har flera spår inser fackmannen att tekniken är oberoende av antalet spår då mätenheterna vardera har endast en referenskomponent som samverkar med ett spår och mätenheterna i övrigt samverkar med respektive remskivas periferiella kant. Fackmannen får därför anses omedelbart inse att dokument D5 anvisar en lösning på problemet att utforma mätenheterna för mätning även på remskivor med ett spår, vilken lösning motsvarar vad som anges i patentkravet 1.

Av vad som ovan anförts följer att en modifiering av tekniken enligt D1, med hänsyn tagen till fackmannens allmänna kunskaper och till vad som visas i D5, i syfte att erhålla en anordning för inriktning av remskivor som kan utnyttjas för remskivor med endast ett spår och där endast en mätning behövs leder till ett utförande som överensstämmer med anordningen enligt patentkravet 1. Därav följer också att de enskilda särdragen tagna var för sig är närliggande för fackmannen. De enskilda särdragen ger visserligen anordningen egenskaper i skilda avseenden och bidrar på så sätt till helhetsfunktionen men det har inte visats att de skulle samverka till någon teknisk effekt utöver vad fackmannen direkt förväntar sig. Uppfinningen kan därför även betraktad i sin helhet inte anses annat än närliggande för fackmannen som söker efter alternativa lösningar på de angivna problemen vid inriktning av remskivor. Uppfinningen såsom den definieras i det självständiga patentkravet 1 skiljer sig därför inte väsentligen från den kända tekniken.

Av motsvarande skäl skiljer sig inte heller uppfinningen enligt de självständiga patentkraven 8 och 9 väsentligen från känd teknik.

Patenthavaren har hävdat att uppfinningen, utöver vad som är möjligt enligt tekniken i D1, medger en indexeringsfunktion för att kontrollera att instrumentet inte förlorat korrekt kalibrering i parallell- och vinkelled.

Patentbesvärsrätten konstaterar dock att patentkraven 1, 8 och 9 inte innehåller några särdrag som motsvarar en sådan indexeringsfunktion. Den åberopade funktionen kan därför inte anses ge något bidrag till uppfinningshöjden.

Vid denna bedömning skall överklagandet lämnas utan bifall.

Stefan Svahn Håkan Sandh Yvonne Siösteen

Referent

Enhälligt

ANVISNING FÖR ÖVERKLAGANDE, se bilaga (Formulär A)

LC Visa mer Visa mindre